缺陷散射对相控阵超声全聚焦成像的影响研究.pdf

缺陷散射对相控阵超声全聚焦成像的影响研究.pdf,相控阵超声全聚焦成像充分利用了检测信号，具有成像精度高、可进行缺陷识别等特点，是未来最具应用前景的相控阵成像算法之一。然而，目前相控阵超声全聚焦成像仍不能实现缺陷的高分辨率成像，无法对缺陷进行准确的定性、定量分析。为此，采用有限元仿真相控阵传感器的全阵列采集（FMC）过程，在全矩阵数据的基础上设计全聚焦成像程序，对圆孔和裂纹两种典型缺陷进行TFM成像，研究典型缺陷的TFM成像规律，从缺陷散射的角度分析影响相控阵超声全聚焦成像的因素。结果表明，实际检测中相控阵超声传感器只能接收到缺陷的部分散射信息，而相控阵超声在缺陷处的散射场分布与缺陷的类型、尺寸、角度及入射波类型、入射角度等因素有关，因此能否接收到缺陷散射的主要能量是影响全聚焦成像精度的关键。