资源简介
用于SoC设计的DFT和BIST,讲解了在SOC设计中需要考虑的可测性设计问题 -SoC design for DFT and BIST, explain in the SOC design need to consider design-for-test issues
代码片段和文件信息
属性 大小 日期 时间 名称
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文件 151040 2007-06-03 17:04 用于SoC设计的DFT和BIST.doc
文件 218 2007-06-05 03:14 www.pudn.com.txt
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151258 2
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文件 151040 2007-06-03 17:04 用于SoC设计的DFT和BIST.doc
文件 218 2007-06-05 03:14 www.pudn.com.txt
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