可测性设计（DFT）

测试：就是检测出生产过程中的缺陷，并挑出废品的过程。 测试的基本情况：封装前后都需要进行测试。 测试与验证的区别：目的、方法和条件 测试的难点：复杂度和约束。 可测性设计：有利于测试的设计。

 属性            大小     日期    时间   名称
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     文件    1072640  2004-03-04 19:11  集成电路测试\集成电路测试.ppt

     目录          0  2006-09-19 16:45  集成电路测试

     文件        218  2007-01-22 19:53  www.pudn.com.txt

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