数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计影印版

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计（影印版）

 属性            大小     日期    时间   名称
----------- ---------  ---------- -----  ----

    ...D..R         0  2004-02-11 16:51  sunos

     文件    6049388  1999-05-01 03:29  sunos\ar302sun.tar.Z

    ...D..R         0  2004-02-11 16:51  nt

     文件    5455526  1999-05-20 00:18  nt\ar40eng.exe

    ...D..R         0  2004-02-11 16:51  solaris

     文件    5919933  1999-05-01 03:51  solaris\ar302sol.tar.Z

    ...D..R         0  2004-02-11 16:52  hpux

     文件    5610068  1999-05-08 04:20  hpux\ar302hp.tar.Z

     文件     188933  1999-05-20 00:18  ch01art.pdf

     文件     298319  1999-05-20 00:18  ch02art.pdf

     文件     374121  1999-05-20 00:19  ch03art.pdf

     文件     315007  1999-05-20 00:19  ch04art.pdf

     文件     337095  1999-05-20 00:19  ch05art.pdf

     文件     150553  1999-05-20 00:19  Home.pdf

     文件       5997  1999-05-20 00:18  readme.txt

----------- ---------  ---------- -----  ----

             24704940                    15